Système d'implantation ionique sous vide
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Système d'implantation ionique sous vide pour la fabrication de semi-conducteurs

Le système d'implantation ionique sous vide est un accélérateur de haute précision conçu pour le dopage des semi-conducteurs, la modification de surface et la fabrication de couches minces. Il prend en charge les plaquettes de 2" à 8" et offre une large gamme d'ions implantables (B, P, As, Al, S, H, Mg, Si) avec des énergies d'accélération de 5 keV à 200 keV. Ses principaux atouts sont l'implantation à basse énergie pour les jonctions peu profondes, le traitement à haute température et une ingénierie du vide avancée.

    Aperçu technique de l'implanteur ionique

    Un système d'accélérateur de haute précision pour le dopage des semi-conducteurs, la modification de surface et la fabrication de couches minces, combinant l'accélération par faisceau d'ions, l'analyse de masse et l'ingénierie du vide.

    Implantation ionique.jpg-système d'implantation ionique.jpg

    Spécifications de base

    Paramètre

    Valeur/Plage

    Énergie d'accélération

    5keV – 200keV (ions univalents)

    Compatibilité des plaquettes

    Plaquettes de 2" à 8" + fragments irréguliers

    ions implantables

    B, P, As, Al, S, H, Mg, Si

    Précision de la dose

    ≤1,5%

    Dose Range

    1×10¹¹–1×10¹⁶ atomes/cm²

    Angles d'inclinaison

    0°, 7° (température ambiante) ; 0° (température élevée)

    Sous-systèmes clés

    2. Sous-systèmes clés

    A. Système de source d'ions
    Composants :
    ● Générateur d'ions à plasma (par exemple, source Freeman ou Bernas)
    ● 5 vaporisateurs à source solide (fonctionnement à 700 °C)
    ● Système d'alimentation en gaz pour les précurseurs de dopants (par exemple, BF₃ pour le bore)
    Objectif : Générer et extraire des espèces ioniques avec des états de charge précis.

    B. Optique de la ligne de faisceau
    1. Analyseur de masse
    ● Utilise la déviation magnétique pour sélectionner les ions en fonction du rapport masse/charge (par exemple, sépare ᴮ⁺ de ᴾ⁺).
    3. Accélération/Décélération
    ● Ajuste dynamiquement l'énergie du faisceau (200 keV max → 5 keV bas).
    4. Balayage par faisceau
    ● Balayage électrostatique ou magnétique pour une couverture uniforme de la plaquette.


    C. Systèmes de vide

    Section

    Seuil de pression

    Composants critiques

    Source d'ions

    ≤7×10⁻⁴ Pa

    Pompes turbo, cryopanels

    Transport de faisceau

    ≤7×10⁻⁵ Pa

    Lentilles quadripolaires, portes de faisceau

    Station terminale

    ≤7×10⁻⁵ Pa

    Robots de sas de chargement et de manutention de plaquettes

    Capacités avancées

    ● Implantation à faible énergie : le système de décélération permet des jonctions peu profondes (par exemple, pour un dopage ultra-superficiel dans les FinFET).
    ● Traitement à haute température : implantation à 0° à des températures élevées pour le recuit des défauts (par exemple, fabrication de dispositifs SiC).
    ● Flexibilité de la source solide : Les vaporisateurs prennent en charge les matériaux réfractaires comme l'Al (pour le dopage de type p dans les semi-conducteurs III-V).
    Exemple d'application
    Implantation de phosphore (ᴾ⁺) à 50 keV avec une dose de 1×10¹⁵ atomes/cm² pour la formation de puits CMOS, atteignant une uniformité
    Principe de fonctionnement du système d'implantation ionique.jpg

    Comparaison des normes de l'industrie

    débit: Concurrentiel avec la série Axcelis GSD/GPH, mais optimisé pour une flexibilité à l'échelle de la R&D.

    Gamme énergétique: Capacité de traitement à basse énergie plus étendue par rapport aux implanteurs traditionnels (par exemple, Varian E500).