System znakowania płytek półprzewodnikowych WM-ST-120 FOUP Ultra-Clean: automatyczne znakowanie laserowe płytek półprzewodnikowych o średnicy 200 mm i 300 mm
Dlaczego znakowanie płytek półprzewodnikowych jest kluczowe w produkcji półprzewodników
Współczesna produkcja półprzewodników wymaga śledzenia całego procesu powstawania płytek półprzewodnikowych, od momentu ich wytworzenia aż do końcowego pakowania.
Znakowanie płytek laserem pozwala producentom na:
- Śledź wafle w całym procesie produkcji
- Poprawa możliwości śledzenia procesów
- Zmniejszenie błędów identyfikacji
- Wsparcie integracji MES
- Ulepsz zarządzanie wydajnością
- Spełnianie wymagań jakościowych klienta
- Przestrzegaj standardów branży półprzewodników
W miarę rozwoju Przemysłu 4.0 i inteligentnej produkcji półprzewodników, zautomatyzowane systemy identyfikacji płytek stały się niezbędnym wyposażeniem zaawansowanych fabryk i zakładów pakujących.

Czym jest system znakowania płytek?
System znakowania płytek półprzewodnikowych wykorzystuje precyzyjną technologię laserową w celu trwałego grawerowania informacji identyfikacyjnych na płytkach półprzewodnikowych.
Do popularnych formatów oznaczania należą:
- Numery identyfikacyjne płytek
- Numery śledzenia partii
- Kody historii produkcji
- Znaki czytelne dla OCR
- Oznaczenia czcionek zgodne ze standardem SEMI
- Kody 2D Data Matrix
- Informacje o możliwości śledzenia specyficzne dla klienta
Oznaczenia pozostają czytelne w całym procesie produkcji, testowania, pocieniania, cięcia, pakowania i montażu płytek.
Główne cechy WM-ST-120 FOUP Maszyna do znakowania płytek
W pełni zautomatyzowana operacja oparta na FOUP

System zawiera zintegrowany port ładowania FOUP klasy półprzewodnikowej umożliwiający automatyczne ładowanie i rozładowywanie płytek.
Korzyści obejmują:
- Zmniejszona interwencja operatora
- Niższe ryzyko skażenia
- Poprawiona przepustowość
- Ulepszona ochrona wafli
- Zgodność z automatycznymi liniami produkcyjnymi
Opcjonalne konfiguracje portu ładowania SMIF są dostępne dla fabryk stosujących alternatywne standardy obsługi płytek.
Obsługuje wiele materiałów wafli
Moduł WM-ST-120 FOUP jest kompatybilny z szeroką gamą materiałów półprzewodnikowych:
- Krzem (Si)
- German (Ge)
- Węglik krzemu (SiC)
- Azotek galu (GaN)
- Fosforek indu (InP)
- Szafir
- Kwarc
Taka elastyczność pozwala producentom na stosowanie jednej platformy znakowania w wielu liniach produktów.
OCR i znakowanie Data Matrix zgodne ze standardem SEMI

System obsługuje:
- Czcionki OCR zgodne ze standardem SEMI
- Kodowanie macierzy danych 2D
- Niestandardowe formaty znaków
- Schematy identyfikacji specyficzne dla danej fabryki
Te formaty oznaczeń zapewniają zgodność z:
- Systemy realizacji produkcji (MES)
- Zautomatyzowane systemy kontroli optycznej
- Platformy analizy wydajności
- Bazy danych śledzenia produkcji
Możliwość twardego i miękkiego znakowania

Różne produkty półprzewodnikowe wymagają różnej głębokości oznakowania i poziomu widoczności.
Twarde znakowanie
Polecane dla:
- Trwała identyfikacja wafli
- Czytelność o wysokim kontraście
- Długie przepływy procesowe
- Trudne warunki produkcyjne
Miękkie znakowanie
Polecane dla:
- Podłoża wrażliwe
- Zaawansowane opakowania wafli
- Zastosowania o niskim naprężeniu
- Specjalistyczne procesy półprzewodnikowe
Opcjonalne znakowanie tylnej strony płytki
Urządzenie WM-ST-120 FOUP można skonfigurować do znakowania tylnej strony płytki.
Korzyści obejmują:
- Ochrona aktywnych obszarów urządzeń
- Poprawiona zgodność procesów
- Zmniejszone zakłócenia z przodu
- Wsparcie dla zaawansowanych technologii pakowania
Bezkontaktowe przetwarzanie płytek
Opcjonalny bezkontaktowy, robotyczny system transferu minimalizuje fizyczny kontakt z waflem.
Zalety obejmują:
- Zmniejszone ryzyko uszkodzenia płytki
- Niższa generacja cząstek
- Ulepszona obsługa cienkich płytek
- Wyższe plony produkcyjne
Funkcja weryfikacji sumy kontrolnej
Opcjonalna funkcja weryfikacji sumy kontrolnej zapewnia dodatkową warstwę weryfikacji identyfikowalności.
Korzyści obejmują:
- Poprawiona dokładność danych
- Ulepszona kontrola jakości
- Zmniejszona liczba błędów w oznaczaniu
- Większa niezawodność produkcji
Dane techniczne
| Parametr | Specyfikacja |
|---|---|
| Model | WM-ST-120 |
| Rozmiar opłatka | 8 cali (200 mm) – 12 cali (300 mm) |
| Technologia znakowania | Precyzyjne znakowanie laserowe |
| Formaty oznaczania | OCR, tekst, macierz danych 2D |
| Standard OCR | PÓŁOCR |
| Materiały waflowe | Si, Ge, SiC, GaN, InP, szafir, kwarc |
| Metoda ładowania | Port ładowania FOUP |
| Opcjonalne ładowanie | Port ładowania SMIF |
| Pozycja oznaczenia | Przód / Tył |
| Transfer opłatków | Opcjonalny robot bezkontaktowy |
| Weryfikacja sumy kontrolnej | Fakultatywny |
| Zgodność z pomieszczeniami czystymi | Środowisko pomieszczeń czystych dla półprzewodników |
Branże i zastosowania
Odlewnie półprzewodników
Stosowany do identyfikacji płytek i śledzenia ich pochodzenia w całym procesie produkcji płytek.
Zaawansowane urządzenia pakujące i OSAT
Obsługuje pakowanie na poziomie wafli (WLP), pakowanie rozproszone i heterogeniczne przepływy pracy integracyjne.
Produkcja urządzeń z węglika krzemu (SiC)
Zapewnia niezawodną identyfikowalność produkcji półprzewodników mocy.
Produkcja azotku galu (GaN)
Wspiera produkcję wysokowydajnych układów elektroniki mocy i urządzeń RF.
Produkcja MEMS
Nadaje się do:
- Akcelerometry
- Żyroskopy
- Czujniki ciśnienia
- Urządzenia MEMS optyczne
Fotonika i optoelektronika
Dotyczy:
- Urządzenia komunikacji optycznej
- Układy scalone fotoniczne
- Produkcja komponentów laserowych
WM-ST-120 FOUP kontra konwencjonalne systemy znakowania płytek
| Funkcja | WM-ST-120 | Systemy konwencjonalne |
| W pełni zautomatyzowana obsługa | Tak | Ograniczony |
| Integracja FOUP | Tak | Często niedostępne |
| Oznaczenia SEMI OCR | Tak | Częściowy |
| Obsługa macierzy danych 2D | Tak | Ograniczony |
| Obsługa bezkontaktowa | Fakultatywny | Rzadki |
| Znakowanie tylnej strony | Fakultatywny | Ograniczony |
| Zgodność z SiC i GaN | Tak | Często ograniczone |
| Zaawansowane wsparcie pakowania | Tak | Ograniczony |
| Optymalizacja pomieszczeń czystych | Tak | Różnie |
Często zadawane pytania
Czym jest maszyna do znakowania płytek?
Maszyna do znakowania płytek półprzewodnikowych wykorzystuje technologię laserową do trwałego grawerowania informacji identyfikacyjnych na płytkach, co umożliwia ich śledzenie i kontrolę produkcji.
Czy płytki z węglika krzemu (SiC) można znakować laserowo?
Tak. WM-ST-120 FOUP obsługuje znakowanie płytek SiC i zapewnia wysoce kontrastową, trwałą identyfikację, odpowiednią do produkcji półprzewodników mocy.
Czy system obsługuje płytki o średnicy 300 mm?
Tak. Maszyna jest przeznaczona do płytek o średnicy 200 mm (8 cali) i 300 mm (12 cali).
Czy maszyna może znakować kody 2D Data Matrix?
Tak. System obsługuje zarówno czcionki SEMI OCR, jak i oznaczenia 2D Data Matrix, co pozwala spełnić zaawansowane wymagania dotyczące identyfikowalności półprzewodników.
Czy możliwe jest znakowanie tylnej strony płytki?
Tak. Opcjonalny moduł znakowania na tylnej stronie można skonfigurować zgodnie z wymaganiami klienta.
Jakie materiały półprzewodnikowe są obsługiwane?
System obsługuje podłoża z krzemu, germanu, węglika krzemu, azotku galu, fosforku indu, szafiru, kwarcu i innych zaawansowanych półprzewodników.
Dlaczego warto wybrać Jiangsu Himalaya Semiconductor?
Jiangsu Himalaya Semiconductor Co., Ltd. specjalizuje się w obróbce półprzewodników, obróbce płytek półprzewodnikowych, spajaniu matryc, spajaniu drutowym, cięciu płytek półprzewodnikowych, obróbce laserowej i zaawansowanym sprzęcie do pakowania.
Łącząc specjalistyczną wiedzę z zakresu automatyzacji produkcji półprzewodników z inżynierią dostosowaną do wymagań pomieszczeń czystych, firma zapewnia niezawodne rozwiązania produkcyjne dla producentów półprzewodników na całym świecie.
Wniosek
System znakowania płytek półprzewodnikowych WM-ST-120 FOUP Ultra-Clean to kompletne rozwiązanie w zakresie identyfikowalności płytek w nowoczesnej produkcji półprzewodników.
Dzięki automatyzacji FOUP, znakowaniu OCR zgodnemu ze standardem SEMI, kodowaniu 2D Data Matrix, możliwości znakowania od tyłu, bezkontaktowej obsłudze płytek oraz kompatybilności z płytkami Si, SiC, GaN, InP, szafirowymi i kwarcowymi, system ten idealnie nadaje się do fabryk półprzewodników, obiektów OSAT, producentów MEMS i zaawansowanych linii produkcyjnych w zakresie pakowania, w których liczy się wyższy poziom automatyzacji, niezawodności i możliwości śledzenia.


