Sistema de Implantação Iônica a Vácuo
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Sistema de Implantação Iônica a Vácuo para Fabricação de Semicondutores

O Sistema de Implantação Iônica a Vácuo é um acelerador de alta precisão projetado para dopagem de semicondutores, modificação de superfície e fabricação de filmes finos. Ele suporta wafers de 2" a 8" e oferece uma ampla gama de íons implantáveis ​​(B, P, As, Al, S, H, Mg, Si) com energias de aceleração de 5 keV a 200 keV. Os principais recursos incluem implantação de baixa energia para junções rasas, processamento em alta temperatura e engenharia de vácuo avançada.

    Visão geral técnica do implantador iônico

    Um sistema acelerador de alta precisão para dopagem de semicondutores, modificação de superfície e fabricação de filmes finos, que combina aceleração por feixe de íons, análise de massa e engenharia de vácuo.

    Implantação iônica.jpg-sistema de implantação iônica.jpg

    Especificações principais

    Parâmetro

    Valor/Intervalo

    Energia de aceleração

    5keV–200keV (univalent ions)

    Compatibilidade de wafers

    wafers de 2" a 8" + fragmentos irregulares

    Íons implantáveis

    B, P, As, Al, S, H, Mg, Si

    Precisão da Dose

    ≤1,5%

    Faixa de dosagem

    1×10¹¹–1×10¹⁶ átomos/cm²

    Ângulos de inclinação

    0°, 7° (temperatura ambiente); 0° (temperatura alta)

    Subsistemas principais

    2. Subsistemas principais

    A. Sistema de fonte de íons
    Componentes:
    ● Gerador de íons baseado em plasma (ex.: fonte de Freeman ou Bernas)
    ● 5 vaporizadores de fonte sólida (operação a 700°C)
    ● Sistema de fornecimento de gás para precursores de dopantes (ex.: BF₃ para boro)
    Finalidade: Gera e extrai espécies iônicas com estados de carga precisos.

    B. Óptica da linha de feixe
    1. Analisador de Massa
    ● Utiliza deflexão magnética para selecionar íons pela relação massa/carga (por exemplo, separa ᴮ⁺ de ᴾ⁺).
    3. Aceleração/Desaceleração
    ● Ajusta a energia do feixe dinamicamente (máximo de 200 keV → mínimo de 5 keV).
    4. Varredura por feixe
    ● Varredura eletrostática ou magnética para cobertura uniforme do wafer.


    C. Sistemas de vácuo

    Seção

    Limiar de pressão

    Componentes Críticos

    Fonte de íons

    ≤7×10⁻⁴ Pa

    Turbobombas, criopainéis

    Transporte de feixe

    ≤7×10⁻⁵ Pa

    Lentes quadrupolos, comportas de feixe

    Estação final

    ≤7×10⁻⁵ Pa

    Robôs de manuseio de wafers com câmara de carga

    Capacidades avançadas

    ● Implantação de baixa energia: O sistema de desaceleração permite junções rasas (por exemplo, para dopagem ultra-rasa em FinFETs).
    ● Processamento em Alta Temperatura: Implantação a 0°C em temperaturas elevadas para correção de defeitos (ex.: fabricação de dispositivos de SiC).
    ● Flexibilidade de fonte sólida: os vaporizadores suportam materiais refratários como o Al (para dopagem do tipo p em semicondutores III-V).
    Exemplo de aplicação
    Implantação de fósforo (ᴾ⁺) a 50 keV com dose de 1×10¹⁵ átomos/cm² para formação de poços CMOS, alcançando uniformidade
    Princípio de funcionamento do sistema de implantação iônica.jpg

    Comparação de benchmarks do setor

    Capacidade de processamentoCompetitivo com a série Axcelis GSD/GPH, mas otimizado para flexibilidade em escala de P&D.

    Faixa de energiaMaior capacidade de utilização de baixa energia em comparação com implantadores tradicionais (ex.: Varian E500).